Shrnutí návrhu

Obsah

1. EMC IC modelling - Part 4: Models of integrated circuits for RF immunity behavioural simulation - Conducted immunity modelling (ICIM-CI) 0 Připomínky
2. FOREWORD 0 Připomínky
3. INTRODUCTION 0 Připomínky
4. 1 Scope 0 Připomínky
5. 2 Normative references 0 Připomínky
6. 3 Terms, definitions, abbreviated terms and conventions 0 Připomínky
   1. 3.1 Terms and definitions 0 Připomínky
   2. 3.2 Abbreviated terms 0 Připomínky
   3. 3.3 Conventions 0 Připomínky
7. 4 Philosophy 0 Připomínky
8. 5 ICIM-CI model description 0 Připomínky
   1. 5.1 General 0 Připomínky
   2. Figure 1 – Example of the ICIM-CI model structure 0 Připomínky
   3. Figure 2 – Example of an ICIM-CI model of an electronic board 0 Připomínky
   4. 5.2 PDN description 0 Připomínky
   5. 5.3 IBC description 0 Připomínky
   6. Figure 3 – Example of an IBC network 0 Připomínky
   7. Figure 4 – ICIM-CI model representation with different blocks 0 Připomínky
   8. 5.4 IB description 0 Připomínky
9. 6 CIML format 0 Připomínky
   1. 6.1 General 0 Připomínky
   2. Figure 5 – CIML inheritance hierarchy 0 Připomínky
   3. 6.2 CIML structure 0 Připomínky
   4. 6.3 Global keywords 0 Připomínky
   5. 6.4 Header section 0 Připomínky
   6. 6.5 Lead definitions 0 Připomínky
   7. Table 1 – Attributes of the Lead keyword in the Lead_definitions section 0 Připomínky
   8. Table 2 – Compatibility between the Mode and Type fields in CIML 0 Připomínky
   9. 6.6 SPICE macro-models 0 Připomínky
   10. 6.7 Validity section 0 Připomínky
       1. 6.7.1 General 0 Připomínky
       2. Table 3 – Definition of the Validity section of the CIML 0 Připomínky
       3. 6.7.2 Attribute definitions 0 Připomínky
          1. 6.7.2.1 Power_supply 0 Připomínky
          2. 6.7.2.2 Frequency_range 0 Připomínky
          3. 6.7.2.3 Temperature_range 0 Připomínky
   11. 6.8 PDN 0 Připomínky
       1. 6.8.1 General 0 Připomínky
       2. Table 4 – Definition of the Lead keyword in the Pdn section 0 Připomínky
       3. 6.8.2 Attribute definitions 0 Připomínky
          1. 6.8.2.1 Id 0 Připomínky
          2. 6.8.2.2 Ground_id 0 Připomínky
          3. 6.8.2.3 Blockname 0 Připomínky
          4. 6.8.2.4 Type 0 Připomínky
          5. 6.8.2.5 Param_order 0 Připomínky
          6. 6.8.2.6 Format 0 Připomínky
          7. 6.8.2.7 Meas_type 0 Připomínky
          8. 6.8.2.8 Reference_impedance 0 Připomínky
          9. 6.8.2.9 Use 0 Připomínky
          10. 6.8.2.10 Netlist 0 Připomínky
          11. 6.8.2.11 Unit_freq and Unit_param 0 Připomínky
          12. Table 5 – Valid data formats and their default units in the Pdn section 0 Připomínky
          13. 6.8.2.12 Power_level 0 Připomínky
          14. 6.8.2.13 Data_files and List 0 Připomínky
          15. Table 6 – Valid file extensions in the Pdn section 0 Připomínky
       4. 6.8.3 PDN for a single-ended input or output 0 Připomínky
          1. 6.8.3.1 General 0 Připomínky
          2. Figure 6 – PDN electrical schematics 0 Připomínky
          3. Figure 7 – PDN represented as a one-port black-box 0 Připomínky
          4. Table 7 – Valid fields of the Lead keyword for single-ended PDN 0 Připomínky
          5. 6.8.3.2 Inline data - network parameter 0 Připomínky
          6. 6.8.3.3 External file data - network parameter 0 Připomínky
          7. Figure 8 – PDN represented with S-parameters in Touchstone® format 0 Připomínky
          8. Figure 9 – Two-port S-parameters file in Touchstone® format 0 Připomínky
          9. 6.8.3.4 Inline circuit definition 0 Připomínky
          10. Table 8 – Netlist definition 0 Připomínky
          11. Figure 10 – Example structure for defining the PDN using circuit elements 0 Připomínky
          12. 6.8.3.5 External file containing the netlist 0 Připomínky
       5. 6.8.4 PDN for a differential input 0 Připomínky
       6. Figure 11 – Example of a differential input schematic 0 Připomínky
       7. Figure 12 – Example of a differential input PDN represented as a two-port black-box 0 Připomínky
       8. Figure 13 – PDN data format for differential input or output 0 Připomínky
       9. Table 9 – Valid fields of the Lead keyword for differential PDN 0 Připomínky
       10. Figure 14 – Example ICIM-CI macro-model of an operational amplifier with differential inputs 0 Připomínky
       11. 6.8.5 PDN multi-port description 0 Připomínky
       12. Figure 15 – Example ICIM-CI model of an AND gate 0 Připomínky
   12. 6.9 IBC 0 Připomínky
       1. 6.9.1 General 0 Připomínky
       2. 6.9.2 Attribute definitions 0 Připomínky
       3. Table 10 – Differences between the Pdn and Ibc section fields of the Lead keyword 0 Připomínky
       4. Table 11 – Valid fields of the Lead keyword for IBC definition 0 Připomínky
   13. 6.10 IB 0 Připomínky
       1. 6.10.1 General 0 Připomínky
       2. Table 12 – Definition of the Lead keyword in Ib section 0 Připomínky
       3. 6.10.2 Attribute definitions 0 Připomínky
          1. 6.10.2.1 Id 0 Připomínky
          2. 6.10.2.2 Ground_id 0 Připomínky
          3. 6.10.2.3 Blockname 0 Připomínky
          4. 6.10.2.4 Type 0 Připomínky
          5. 6.10.2.5 Max_power_level 0 Připomínky
          6. Table 13 – Max_power_level definition 0 Připomínky
          7. 6.10.2.6 Voltage, Current and Power 0 Připomínky
             1. Table 14 – Voltage, Current and Power definition 0 Připomínky
             2. Table 15 – IB data selection criteria with one or more Voltage / Current / Power sections 0 Připomínky
             3. 6.10.2.6.1 Test_criteria 0 Připomínky
             4. Table 16 – Test_criteria definition 0 Připomínky
             5. 6.10.2.6.2 Param_order 0 Připomínky
             6. 6.10.2.6.3 Format 0 Připomínky
             7. 6.10.2.6.4 Unit_freq, Unit_voltage, Unit_current and Unit_power 0 Připomínky
             8. Table 17 – Default values of Unit_voltage, Unit_current and Unit_power tags as a function of data format 0 Připomínky
             9. 6.10.2.6.5 Data_files and List 0 Připomínky
             10. Table 18 – Valid file extensions in the Ib section 0 Připomínky
       4. 6.10.3 Description 0 Připomínky
          1. 6.10.3.1 Inline data 0 Připomínky
          2. 6.10.3.2 External file data 0 Připomínky
          3. Figure 16 – Example IB file obtained from DPI measurement 0 Připomínky
10. 7 Extraction 0 Připomínky
    1. 7.1 General 0 Připomínky
    2. 7.2 Environmental extraction constraints 0 Připomínky
    3. 7.3 PDN extraction 0 Připomínky
       1. 7.3.1 General 0 Připomínky
       2. 7.3.2 S-/Z-/Y-parameter measurement 0 Připomínky
       3. 7.3.3 RFIP test method 0 Připomínky
    4. 7.4 IB extraction 0 Připomínky
       1. 7.4.1 General 0 Připomínky
       2. 7.4.2 Direct RF power injection test method 0 Připomínky
       3. Figure 17 – Test setup of the DPI immunity measurement method as specified in IEC 62132-4 0 Připomínky
       4. Figure 18 – Principle of DPI on single-pin and multi-pin 0 Připomínky
       5. Figure 19 – Electrical representation of the DPI test setup 0 Připomínky
       6. 7.4.3 RFIP test method 0 Připomínky
       7. Figure 20 – Test setup of the RFIP measurement method derived from the DPI method 0 Připomínky
       8. 7.4.4 IB data table 0 Připomínky
       9. Table 19 – Example of an IB table obtained using a pass/fail test 0 Připomínky
    5. 7.5 IBC 0 Připomínky
11. 8 Validation of ICIM-CI hypotheses 0 Připomínky
    1. 8.1 General 0 Připomínky
    2. Figure 21 – Example setup used for illustrating the ICIM-CI hypotheses 0 Připomínky
    3. 8.2 Linearity 0 Připomínky
    4. Figure 22 – Example of linearity assumption validation 0 Připomínky
    5. 8.3 Transmitted power as immunity criteria 0 Připomínky
    6. Figure 23 – Example of transmitted power criterion validation 0 Připomínky
12. 9 Model usage 0 Připomínky
    1. Figure 24 – Example of using an ICIM-CI macro-model for simulation 0 Připomínky
13. Annex A (informative) Example of an ICIM‑CI macro-model to illustrate the influence of a disturbance output terminal 0 Připomínky
    1. Figure ‎A.1 – ICIM-CI description applied to a crystal oscillator for extracting IB 0 Připomínky
14. Annex B (informative) Conversions between parameter types and calculation of transmitted power 0 Připomínky
    1. B.1 General 0 Připomínky
    2. B.2 Single-ended input or output 0 Připomínky
    3. Figure ‎B.1 – Single-ended DI 0 Připomínky
    4. Table ‎B.1 – Single-ended parameter conversion 0 Připomínky
    5. B.3 Differential input or output 0 Připomínky
    6. Figure ‎B.2 – Differential DI 0 Připomínky
    7. Figure ‎B.3 – Two-port representation of a differential DI 0 Připomínky
    8. Table ‎B.2 – Differential parameter conversion 0 Připomínky
    9. Figure ‎B.4 – Example simulation schematic of common-mode injection on a differential DI based on DPI 0 Připomínky
    10. Figure ‎B.5 – Equivalent common-mode input impedance of a differential DI 0 Připomínky
    11. Figure ‎B.6 – Example simulation schematic to determine the transmitted power for a differential DI 0 Připomínky
    12. Table ‎B.3 – Power calculation 0 Připomínky
15. Annex C (informative) Example of ICIM-CI macro-model in CIML format 0 Připomínky
    1. Figure ‎C.1 – Configuration of the example LIN transceiver for the ICIM-CI macro-model extraction 0 Připomínky
    2. Figure ‎C.2 – PDN data in Touchstone® format (s2p), data is measured using a VNA 0 Připomínky
    3. Figure ‎C.3 – PDN data of leads 6 (LIN) and 7 (VCC) 0 Připomínky
    4. Figure ‎C.4 – IB data in ASCII format (.txt), data is measured using the DPI method - Injection on VCC pin 0 Připomínky
    5. Figure ‎C.5 – IB data for injection on VCC pin 0 Připomínky
16. Annex D (informative) Recommendations for using SPICE subcircuits for the PDN component in CIML 0 Připomínky
17. Annex E (informative) PDN impedance measurement methods using a VNA 0 Připomínky
    1. E.1 General 0 Připomínky
    2. E.2 Conventional one-port method 0 Připomínky
    3. Figure ‎E.1 – Conventional one-port S-parameter measurement 0 Připomínky
    4. E.3 Two-port method for low impedance measurement 0 Připomínky
    5. Figure ‎E.2 – Two-port method for low impedance measurement 0 Připomínky
    6. E.4 Two-port method for high impedance measurement 0 Připomínky
    7. Figure ‎E.3 – Two-port method for high impedance measurement 0 Připomínky
18. Annex F (informative) Guidelines for specifying the IB test criteria in CIML 0 Připomínky
19. Annex G (informative) RFIP measurement method description 0 Připomínky
    1. G.1 General 0 Připomínky
    2. Figure ‎G.1 – Test setup of the RFIP measurement method derived from the DPI method 0 Připomínky
    3. G.2 Obtaining immunity parameters 0 Připomínky
    4. Figure ‎G.2 – Principle of the RFIP measurement method and the probe representation 0 Připomínky
20. Annex H (informative) Immunity simulation with ICIM-CI model based on pass/fail test 0 Připomínky
    1. H.1 ICIM-CI macro-model of a voltage regulator IC 0 Připomínky
       1. H.1.1 General 0 Připomínky
       2. Figure ‎H.1 – Electrical schematic for extracting the voltage regulator’s ICIM-CI 0 Připomínky
       3. H.1.2 PDN extraction 0 Připomínky
       4. H.1.3 IB extraction 0 Připomínky
       5. Figure ‎H.2 – ICIM-CI extraction on the voltage regulator example 0 Připomínky
       6. H.1.4 SPICE-compatible macro-model 0 Připomínky
       7. Figure ‎H.3 – Example of a SPICE-compatible ICIM-CI macro-model of the voltage regulator 0 Připomínky
    2. H.2 Application level simulation and failure prediction 0 Připomínky
    3. Figure ‎H.4 – Example of a board level simulation on the voltage regulator’s ICIM-CI with PCB model and other components including parasitic elements 0 Připomínky
    4. Figure ‎H.5 – Incident power as a function of frequency that is required to create a malfunction with a 10 nF filter 0 Připomínky
21. Annex I (informative) Immunity simulation with ICIM-CI model based on non-pass/fail test 0 Připomínky
    1. Figure ‎I.1 – Example of an IB file for a given susceptibility criterion with a non-pass/fail test 0 Připomínky
    2. Figure ‎I.2 – Comparison of simulated transmitted power (P_T) and measured immunity behaviour 0 Připomínky
22. Bibliography 0 Připomínky