Návrhy - Přehled návrhů norem

Při odesílání formuláře se vyskytla chyba:

Výsledky

47F/557/CDV - IEC 62047-54 ED1 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 54: Silicon based MEMS fabrication technology – Measurement method of tensile strength of microstructures

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/SC 47F (Micro-electromechanical systems) Open: 24.07.2026 to 23.09.2026

110/1865/CDV - IEC 62977-1-2 ED1 Electronic displays – Part 1-2: Generic - Terminology and letter symbols related to optical measurement and evaluation

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/TC 110 (Electronic displays) Open: 20.08.2026 to 06.10.2026

110/1866/CDV - IEC 63145-201-10 ED1 Eyewear display - Part 201-10: Optical characteristics of VR type – Singlet lens used for eyepieces

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/TC 110 (Electronic displays) Open: 20.08.2026 to 06.10.2026

47/3028/CDV - IEC 63567-3 ED1 Semiconductor devices - Performance evaluation of semiconductor processing components and inspection equipment - Part 3: Nano-scale wafer surface inspection method using UV light

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/TC 47 (Semiconductor devices) Open: 08.09.2026 to 04.11.2026

47/3031/CDV - IEC 63551-1 ED1 Semiconductor devices - Chip-scale testing for autonomous vehicles - Part 1: Combined LD-PD for LiDAR

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/TC 47 (Semiconductor devices) Open: 16.09.2026 to 11.11.2026

110/1880/CDV - IEC 63145-30 ED1 Eyewear display - Part 30: Durability test methods

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/TC 110 (Electronic displays) Open: 22.09.2026 to 18.10.2026

110/1883/CDV - IEC 63145-20-10 ED2 Eyewear display - Part 20-10: Fundamental measurement methods - Optical properties

Oblast: Elektrotechnické inženýrství Komise : IEC/TC 110 (Electronic displays) Open: 22.09.2026 to 18.10.2026