Podrobnosti návrhu
| Název | Semiconductor devices - Chip-scale testing for autonomous vehicles - Part 1: Combined LD-PD for LiDAR |
|---|---|
| Číslo | 47/3031/CDV - IEC 63551-1 ED1 |
| Zdroj | ISO\IEC\CEN\CENELEC |
| Komise | IEC/TC 47 (Semiconductor devices) |
| Zkontrolujte datum zahájení | |
| K připomínkám do | |
| Oblast zaměření |
Akce
Anotace
This part of IEC 63551 specifies the standard testing conditions and testing methods that can be used to evaluate and determine the detection performance of semiconductor devices used in LiDAR systems, focusing on packaged LD-PD performance at chip-scale.
Instrukce
Tento dokument můžete připomínkovat po jednotlivých částech - stačí u příslušné části dokumentu vyplnit formulář v souladu s pokyny a kliknout na ‚Odeslat připomínku‘.
Prosíme, nepoužívejte vulgární výrazy a nevyužívejte tento prostor pro umisťování reklamy.