Shrnutí návrhu

Obsah

1. Integrated circuits - EMC evaluation of transceivers - Part 3: CAN transceivers 0 Připomínky
2. FOREWORD 0 Připomínky
3. 1 Scope 0 Připomínky
4. 2 Normative references 0 Připomínky
5. 3 Terms, definitions and abbreviated terms 0 Připomínky
   1. 3.1 Terms and definitions 0 Připomínky
   2. 3.2 Abbreviated terms 0 Připomínky
6. 4 General 0 Připomínky
   1. Table 1 – Overview of measurements and tests 0 Připomínky
7. 5 Test and operating conditions 0 Připomínky
   1. 5.1 Supply and ambient conditions 0 Připomínky
   2. Table 2 – Supply and ambient conditions for functional operation 0 Připomínky
   3. 5.2 Test operation modes 0 Připomínky
   4. 5.3 Test configuration 0 Připomínky
      1. 5.3.1 General test configuration for transceiver network 0 Připomínky
      2. Figure 1 – General test configuration for tests in transceiver network 0 Připomínky
      3. 5.3.2 General test configuration for unpowered ESD test 0 Připomínky
      4. Figure 2 – General test configuration for unpowered ESD test 0 Připomínky
      5. 5.3.3 Transceiver network tests - Coupling ports and networks 0 Připomínky
      6. Figure 3 – Transceiver network tests - Coupling ports and networks 0 Připomínky
      7. Table 3 – Transceiver network tests - Component value definitions of coupling ports and networks 0 Připomínky
      8. 5.3.4 Transceiver network tests - Signal ringing network 0 Připomínky
      9. Figure 4 – Signal ringing network for CAN SIC tests 0 Připomínky
      10. 5.3.5 Unpowered ESD tests - Coupling ports and networks 0 Připomínky
      11. Figure 5 – Coupling ports and networks for ESD tests 0 Připomínky
      12. Table 4 – Definitions of coupling ports for ESD tests 0 Připomínky
   5. 5.4 Test signals 0 Připomínky
      1. 5.4.1 General 0 Připomínky
      2. 5.4.2 Test signals for normal operation mode 0 Připomínky
         1. 5.4.2.1 CAN transceiver with HS functionality 0 Připomínky
         2. Table 5 – Communication test signal TX1 0 Připomínky
         3. Table 6 – Communication test signal TX2c 0 Připomínky
         4. 5.4.2.2 CAN transceiver with FD functionality 0 Připomínky
         5. Table 7 – Communication test signal TX2a 0 Připomínky
         6. Table 8 – Communication test signal TX2b 0 Připomínky
         7. 5.4.2.3 CAN transceiver with SIC functionality 0 Připomínky
         8. Table 9 – Communication test signal TX-SIC 0 Připomínky
      3. 5.4.3 Test signal for wake-up from low power mode 0 Připomínky
         1. 5.4.3.1 CAN transceiver with HS functionality 0 Připomínky
         2. Table 10 – Wake-up test signal TX3 0 Připomínky
         3. 5.4.3.2 CAN transceiver with PN functionality 0 Připomínky
         4. Table 11 – Communication test signal TX4a 0 Připomínky
         5. Table 12 – Communication test signal TX4b 0 Připomínky
         6. Table 13 – Communication test signal TX4c 0 Připomínky
         7. Table 14 – Communication test signal TX4d 0 Připomínky
         8. Table 15 – Communication test signal TX4e 0 Připomínky
         9. Table 16 – Communication test signal TX4f1 0 Připomínky
         10. Table 17 – Communication test signal TX4f2 0 Připomínky
         11. Table 18 – Communication test signal TX4g 0 Připomínky
         12. Table 19 – Communication test signal TX4h 0 Připomínky
         13. Table 20 – Communication test signal TX4i 0 Připomínky
   6. 5.5 Evaluation criteria 0 Připomínky
      1. 5.5.1 General 0 Připomínky
      2. 5.5.2 Evaluation criteria for functional operation modes 0 Připomínky
         1. 5.5.2.1 General 0 Připomínky
         2. 5.5.2.2 CAN transceiver with HS functionality 0 Připomínky
         3. Table 21 – Evaluation criteria for CAN transceiver functions 0 Připomínky
         4. 5.5.2.3 CAN transceiver with PN functionality 0 Připomínky
         5. Table 22 – Evaluation criteria for CAN transceivers with partial networking functionality 0 Připomínky
         6. Table 23 – Specific definition for test procedure for evaluation of CAN transceiver partial networking function 0 Připomínky
         7. 5.5.2.4 CAN transceiver with FD functionality 0 Připomínky
         8. Table 24 – Evaluation criteria for CAN transceivers with FD functionality 0 Připomínky
         9. Figure 6 – Definition for trigger points and violation masks for CAN transceivers with FD functionality 0 Připomínky
         10. Table 25 – Definitions for violation masks for CAN transceivers with FD functionality 0 Připomínky
         11. 5.5.2.5 CAN transceiver with SIC functionality 0 Připomínky
         12. Table 26 – Evaluation criteria for CAN transceivers with SIC and FD functionality 0 Připomínky
         13. Table 27 – Definitions for violation masks for CAN transceivers with SIC and FD functionality 0 Připomínky
         14. Table 28 – Evaluation criteria for CAN transceiver with SIC functionality under signal ringing network conditions 0 Připomínky
         15. Table 29 – Procedure and parameter for signal ringing network validation 0 Připomínky
         16. 5.5.2.6 Embedded CAN transceiver 0 Připomínky
         17. Table 30 – Evaluation criteria for embedded CAN transceiver 0 Připomínky
         18. Table 31 – Specific definition for test procedure for evaluation of embedded CAN transceivers with FD and SIC functionality. 0 Připomínky
      3. 5.5.3 Evaluation criteria in unpowered condition after exposure to disturbances 0 Připomínky
      4. Figure 7 – Principle drawing of the maximum deviation on an I-V characteristic 0 Připomínky
      5. 5.5.4 Status classes 0 Připomínky
      6. Table 32 – Definition of functional status classes 0 Připomínky
8. 6 Test and measurement 0 Připomínky
   1. 6.1 Emission of RF disturbances 0 Připomínky
      1. 6.1.1 Test method 0 Připomínky
      2. 6.1.2 Test setup 0 Připomínky
      3. Figure 8 – Test setup for measurement of RF disturbances 0 Připomínky
      4. 6.1.3 Test procedure and parameters 0 Připomínky
      5. Table 33 – Settings of the RF measurement equipment 0 Připomínky
      6. Table 34 – RF emission measurements for classical and embedded CAN transceivers 0 Připomínky
   2. 6.2 Immunity to RF disturbances 0 Připomínky
      1. 6.2.1 Test method 0 Připomínky
      2. 6.2.2 Test setup 0 Připomínky
      3. Figure 9 – Test setup for DPI tests 0 Připomínky
      4. 6.2.3 Test procedure and parameters 0 Připomínky
      5. Table 35 – Specifications for DPI tests 0 Připomínky
      6. Table 36 – DPI tests for functional status class A_IC evaluation of classical CAN transceivers with HS functionality 0 Připomínky
      7. Table 37 – DPI tests for functional status class A_IC evaluation of embedded CAN transceivers with HS , FD and SIC functionality 0 Připomínky
      8. Table 38 – DPI tests for functional status class A_IC evaluation of classical CAN transceivers with PN functionality 0 Připomínky
      9. Table 39 – DPI tests for functional status class A_IC evaluation of classical CAN transceivers with FD functionality 0 Připomínky
      10. Table 40 – DPI tests for functional status class A_IC evaluation of classical CAN transceivers with SIC functionality 0 Připomínky
      11. Table 41 – DPI tests for functional status class C_IC or D_IC evaluation of all types of CAN transceivers 0 Připomínky
   3. 6.3 Immunity to impulses 0 Připomínky
      1. 6.3.1 Test method 0 Připomínky
      2. 6.3.2 Test setup 0 Připomínky
      3. Figure 10 – Test setup for impulse immunity tests 0 Připomínky
      4. 6.3.3 Test procedure and parameters 0 Připomínky
      5. Table 42 – Specifications for impulse immunity tests 0 Připomínky
      6. Table 43 – Parameters for impulse immunity test 0 Připomínky
      7. Table 44 – Impulse immunity tests for functional status class A_IC evaluation of classical CAN transceivers with HS functionality 0 Připomínky
      8. Table 45 – Impulse immunity tests for functional status class A_IC evaluation of embedded CAN transceivers with HS functionality 0 Připomínky
      9. Table 46 – Impulse immunity tests for functional status class A_IC evaluation of classical CAN transceiver with PN functionality 0 Připomínky
      10. Table 47 – Impulse immunity tests for functional status class A_IC evaluation of classical and embedded CAN transceivers with FD and SIC functionality 0 Připomínky
      11. Table 48 – Impulse immunity tests for functional status class C_IC or D_IC evaluation of all types of CAN transceivers 0 Připomínky
   4. 6.4 Electrostatic discharge (ESD) 0 Připomínky
      1. 6.4.1 Test method 0 Připomínky
      2. 6.4.2 Test setup for unpowered test 0 Připomínky
      3. Figure 11 – Test setup for direct ESD tests - Principal arrangement 0 Připomínky
      4. Figure 12 – Test setup for direct ESD tests - Stimulation and monitoring 0 Připomínky
      5. 6.4.3 Test procedure and parameters 0 Připomínky
      6. Table 49 – Specifications for direct ESD tests in unpowered mode 0 Připomínky
      7. Table 50 – ESD tests in unpowered mode for functional status class D_IC evaluation of CAN transceivers 0 Připomínky
9. 7 Test report 0 Připomínky
10. Annex A (normative) CAN test circuits 0 Připomínky
    1. A.1 General 0 Připomínky
    2. A.2 Test circuit for classical CAN transceivers for functional tests 0 Připomínky
    3. Figure ‎A.1 – General drawing of the circuit diagram of test network for CAN transceivers for functional test 0 Připomínky
    4. Figure ‎A.2 – General drawing of the circuit diagram of test network for CAN transceivers with PN functionality for functional test 0 Připomínky
    5. A.3 Test circuit with signal ringing network for CAN transceiver with SIC functionality 0 Připomínky
    6. Figure ‎A.3 – General drawing of the circuit diagram of test network with signal ringing network for CAN transceivers with SIC functionality 0 Připomínky
    7. A.4 Test circuit for embedded CAN transceivers for functional tests 0 Připomínky
    8. Figure ‎A.4 – General drawing of the circuit diagram of test network for embedded CAN transceivers for functional test 0 Připomínky
    9. A.5 Test circuit for CAN transceiver for unpowered ESD test 0 Připomínky
    10. Figure ‎A.5 – General drawing of the circuit diagram for direct ESD tests of CAN transceivers in unpowered mode 0 Připomínky
11. Annex B (normative) Test circuit boards 0 Připomínky
    1. B.1 Test circuit board for functional tests 0 Připomínky
    2. Figure ‎B.1 – Example of IC interconnections of CAN signal 0 Připomínky
    3. B.2 Test circuit board for CAN transceivers with SIC functionality 0 Připomínky
    4. Figure ‎B.2 – Example of signal ringing network on CAN network 0 Připomínky
    5. B.3 Unpowered ESD test 0 Připomínky
    6. Figure ‎B.3 – Example of unpowered ESD test board for CAN transceivers 0 Připomínky
    7. Table ‎B.1 – Parameters of ESD test circuit board 0 Připomínky
12. Annex C (informative) Examples for test limits for CAN transceiver in automotive application 0 Připomínky
    1. C.1 General 0 Připomínky
    2. C.2 Emission of RF disturbances 0 Připomínky
    3. Figure ‎C.1 – Example of limits for RF emission - CAN with bus filter 0 Připomínky
    4. Figure ‎C.2 – Example of limits for RF emission - Other global pins 0 Připomínky
    5. Figure ‎C.3 – Example of limits for RF emission - Local supplies 0 Připomínky
    6. C.3 Immunity to RF disturbances 0 Připomínky
    7. Figure ‎C.4 – Example of limits for RF immunity for functional status class A_IC - CAN with bus filter 0 Připomínky
    8. Figure ‎C.5 – Example of limits for RF immunity for functional status class A_IC - CAN 0 Připomínky
    9. Figure ‎C.6 – Example of limits for RF immunity for functional status class A_IC - Other global pins 0 Připomínky
    10. Figure ‎C.7 – Example of limits for RF immunity for functional status class C_IC or D_IC - CAN with bus filter 0 Připomínky
    11. Figure ‎C.8 – Example of limits for RF immunity for functional status class C_IC or D_IC - Other global pins 0 Připomínky
    12. C.4 Immunity to impulses 0 Připomínky
    13. Table ‎C.1 – Example of limits for impulse immunity for functional status class C_IC or D_IC 0 Připomínky
    14. C.5 Electrostatic discharge (ESD) 0 Připomínky
13. Annex D (informative) Characterization of common mode choke for CAN bus interfaces 0 Připomínky
    1. D.1 General 0 Připomínky
    2. D.2 Recommended tests 0 Připomínky
       1. D.2.1 General 0 Připomínky
       2. Figure ‎D.1 – General electrical drawing of a CMC 0 Připomínky
       3. D.2.2 Leakage inductance mismatch measurement 0 Připomínky
       4. Figure ‎D.2 – Test setup for 2-port S-parameter measurements for leakage inductance evaluation 0 Připomínky
       5. Figure ‎D.3 – Example of a two-port test board for CMC leakage inductance characterization 0 Připomínky
       6. Table ‎D.1 – Test procedure and parameters for leakage inductance evaluation 0 Připomínky
       7. Table ‎D.2 – Leakage inductance measurements 0 Připomínky
       8. Table ‎D.3 – Leakage inductance mismatch classes 0 Připomínky
       9. Figure ‎D.4 – Example of CMC characterization measurement results 0 Připomínky
       10. D.2.3 S-parameter measurement mixed mode 0 Připomínky
       11. Figure ‎D.5 – Test setup for S-parameter measurements 0 Připomínky
       12. Table ‎D.4 – Test procedure and parameters for 3-port test board characterization 0 Připomínky
       13. Figure ‎D.6 – Example of the test board (top layer) for 4-port mixed mode S-parameter measurement 0 Připomínky
       14. Figure ‎D.7 – Example of the test board (top layer) for 3-port mixed mode S-parameter measurement 0 Připomínky
       15. Table ‎D.5 – Test procedure and parameters for S-parameter measurements 0 Připomínky
       16. Table ‎D.6 – Recommended S-parameter measurements 0 Připomínky
       17. Figure ‎D.8 – Recommended characteristics for S_dd21 (IL) 0 Připomínky
       18. Figure ‎D.9 – Recommended characteristic for S_cc21 (CMR) 0 Připomínky
       19. Figure ‎D.10 – Recommended characteristic for S_sd21 and S_sd12 (DCMR) 0 Připomínky
       20. D.2.4 ESD damage 0 Připomínky
       21. Figure ‎D.11 – Test setup for ESD damage tests 0 Připomínky
       22. Figure ‎D.12 – Example test board ESD, top layer 0 Připomínky
       23. Table ‎D.7 – Test parameters for ESD damage tests 0 Připomínky
       24. Table ‎D.8 – Recommended ESD tests for damage 0 Připomínky
       25. D.2.5 Saturation test at RF disturbances 0 Připomínky
       26. Figure ‎D.13 – Test setup for RF saturation measurements of CMC 0 Připomínky
       27. Figure ‎D.14 – Example RF saturation/S-parameter test board, top layer 0 Připomínky
       28. Table ‎D.9 – Test procedure and parameters for RF saturation tests of CMC 0 Připomínky
       29. Figure ‎D.15 – Test circuit for RF saturation tests at CMC 0 Připomínky
       30. Figure ‎D.16 – Recommended test power levels for RF saturation tests of CMC 0 Připomínky
       31. Table ‎D.10 – Recommended RF saturation tests for CMC 0 Připomínky
       32. D.2.6 ESD saturation test 0 Připomínky
       33. Figure ‎D.17 – Test setup for ESD saturation measurements at CMC 0 Připomínky
       34. Figure ‎D.18 – Example of ESD saturation test board for CMC, top layer 0 Připomínky
       35. Table ‎D.11 – Test procedure and parameters for ESD saturation tests at CMC 0 Připomínky
       36. Table ‎D.12 – Recommended ESD saturation tests for CMC 0 Připomínky
       37. Figure ‎D.19 – Example of ESD saturation tests results of different CMCs 0 Připomínky
       38. Table ‎D.13 – ESD saturation voltage classes for CMC 0 Připomínky
14. Annex E (informative) Characterization of ESD suppression devices for CAN bus interfaces 0 Připomínky
    1. E.1 General 0 Připomínky
    2. Table ‎E.1 – Specification of ESD suppression device 0 Připomínky
    3. E.2 Test definitions 0 Připomínky
       1. E.2.1 General 0 Připomínky
       2. Figure ‎E.1 – Arrangement of ESD suppression device within the CAN test network 0 Připomínky
       3. E.2.2 Mixed mode S-parameter measurement 0 Připomínky
       4. Figure ‎E.2 – Test setup for S-parameter measurements at ESD suppression device 0 Připomínky
       5. Figure ‎E.3 – Example of test board (top layer) for 4-port mixed mode S-parameter measurement for ESD suppression device 0 Připomínky
       6. Figure ‎E.4 – Example of test board (top layer) for 3-port mixed mode S-parameter measurement for ESD suppression device 0 Připomínky
       7. Table ‎E.2 – Test procedure and parameters for 3-port test board characterization for ESD suppression device 0 Připomínky
       8. Table ‎E.3 – Test procedure and parameters for S-parameter measurements at ESD suppression device 0 Připomínky
       9. Table ‎E.4 – Recommended S-parameter measurements for ESD suppression device 0 Připomínky
       10. Figure ‎E.5 – Recommended characteristics for S_dd21 (IL) for ESD suppression device 0 Připomínky
       11. Figure ‎E.6 – Recommended characteristics for S_sd21 (DCMR) for ESD suppression device 0 Připomínky
       12. E.2.3 ESD damage 0 Připomínky
       13. Figure ‎E.7 – Test setup for ESD damage tests at ESD suppression device 0 Připomínky
       14. Figure ‎E.8 – Example of ESD test board for ESD suppression device, top layer 0 Připomínky
       15. Table ‎E.5 – Test parameters for ESD damage tests at ESD suppression device 0 Připomínky
       16. Table ‎E.6 – Recommended ESD tests for damage for ESD suppression device 0 Připomínky
       17. E.2.4 ESD discharge current measurement 0 Připomínky
       18. Figure ‎E.9 – Test setup for ESD discharge current measurement at ESD suppression device 0 Připomínky
       19. Figure ‎E.10 – Example of ESD discharge current test board for ESD suppression device, top and bottom layer 0 Připomínky
       20. Table ‎E.7 – Test procedure and parameters for ESD discharge current measurement test board characterization 0 Připomínky
       21. Table ‎E.8 – Test parameters for ESD discharge current measurement at ESD suppression device 0 Připomínky
       22. Table ‎E.9 – Recommended current measurement for ESD suppression device 0 Připomínky
       23. Table ‎E.10 – Recommended limits for remaining ESD discharge current after the CAN test network for ESD suppression device 0 Připomínky
       24. Figure ‎E.11 – Example of test results and recommended limits for remaining ESD discharge current after the CAN test network for ESD suppression device 0 Připomínky
       25. Table ‎E.11 – Limit classes and related applied ESD test voltages 0 Připomínky
       26. E.2.5 Test of unwanted clamping effect at RF immunity tests 0 Připomínky
       27. Figure ‎E.12 – Test setup for RF clamping test at ESD suppression device 0 Připomínky
       28. Figure ‎E.13 – Example of test board RF clamping test at suppression device, top layer 0 Připomínky
       29. Table ‎E.12 – Test procedure and parameters for RF clamping tests at ESD suppression device 0 Připomínky
       30. Figure ‎E.14 – Recommended test power levels for RF clamping tests at ESD suppression device used in automotive applications 0 Připomínky
       31. Table ‎E.13 – Required RF clamping tests for ESD suppression device 0 Připomínky
15. Annex F (informative) Bit asymmetry definition for embedded CAN transceiver test 0 Připomínky
    1. F.1 General 0 Připomínky
    2. F.2 Bit timing definition 0 Připomínky
    3. Table ‎F.1 – Bit timings 0 Připomínky
    4. Figure ‎F.1 – Example of bit timing for 2 Mbit/s, data field section 00₁₆ 0 Připomínky
    5. Figure ‎F.2 – Definition of static asymmetric bit times, example 2 Mbit/s 0 Připomínky
    6. F.3 Test procedure for embedded CAN transceivers using bit asymmetry 0 Připomínky
    7. Table ‎F.2 – Test procedure and implementation of bit asymmetry 0 Připomínky
    8. Figure ‎F.3 – Implementation of static bit asymmetry, example for RxD signal 0 Připomínky
16. Annex G (informative) EMC tests for CAN transceiver with SIC and XL functionality 0 Připomínky
    1. G.1 General 0 Připomínky
    2. G.2 Test operation modes 0 Připomínky
    3. G.3 Test configuration 0 Připomínky
    4. G.4 Test signals 0 Připomínky
    5. Table ‎G.1 – Communication test signal TX2d 0 Připomínky
    6. Table ‎G.2 – Communication test signal TX2e 0 Připomínky
    7. Table ‎G.3 – Communication test signal TX2f 0 Připomínky
    8. G.5 Evaluation criteria 0 Připomínky
    9. Table ‎G.4 – Evaluation criteria for CAN transceivers with SIC and XL functionality in normal FAST TX mode 0 Připomínky
    10. Figure ‎G.1 – Definition for trigger points and violation masks for tests of CAN transceivers with SIC and XL functionality in FAST TX mode 0 Připomínky
    11. Table ‎G.5 – Definitions for violation masks for tests of CAN transceivers with SIC and XL functionality in FAST TX mode 0 Připomínky
    12. G.6 Test recommendations 0 Připomínky
        1. G.6.1 Conducted RF emission 0 Připomínky
        2. Table ‎G.6 – Settings of the RF measurement equipment for measurements of CAN transceivers with SIC and XL functionality in FAST TX mode 0 Připomínky
        3. Table ‎G.7 – RF emission measurements of CAN transceivers with SIC and XL functionality in FAST TX mode 0 Připomínky
        4. G.6.2 Conducted RF immunity 0 Připomínky
        5. Table ‎G.8 – DPI tests for functional status class A_IC evaluation of CAN transceivers with SIC and XL functionality in FAST TX mode 0 Připomínky
        6. G.6.3 Transient immunity 0 Připomínky
        7. Table ‎G.9 – Impulse immunity tests for functional status class A_IC evaluation of CAN transceivers with SIC and XL functionality in FAST TX mode 0 Připomínky
        8. G.6.4 Electrostatic discharge (ESD) 0 Připomínky
17. Bibliography 0 Připomínky